VP FE-SEM EDX ZEISS ΣIGMA 300
Caratteristiche tecniche
Sorgente: a catodo termo-assistito tipo Schottky
Risoluzione: 2.8 nm (@ 1 kV); 1.5 nm (@ 15 kV)
Detector BS e SE in lens
Supporto per lavorare in trasmissione (STEM)
Possibilità di analizzare campioni magnetici
Tensione di accelerazione da 0.02 a 30 kV
Ingrandimento da 10x a 1000000x
Pressione variabile da 2 a 133 Pa
Possibilità di analizzare campioni non conduttivi
Tavolino raffreddato fino a -30°C
Sistema di microanalisi a dispersione di energia
Tipologie di campioni
Grazie alle sue caratteristiche, con questo strumento si può analizzare una vasta gamma di campioni. E’ veramente indispensabile per indagini ambientali (analisi su amianto, polveri, metalli pesanti, ecc), per la caratterizzazione di suoli, rocce o sedimenti (stuttura, porosità, distribuzione di elementi e minerali, ecc), per la diagnostica clinica e per studi biologici (analisi di cellule e batteri, identificazione di depositi nei tessuti, analisi di parti anatomiche, ecc), per gli studi di scienze dei materiali (analisi delle microstrutture, studi di sinterizzazione e di propagazione di fratture, ecc), per la diagnostica di beni culturali (diffusione elementare, analisi di deposizioni e patine, pigmenti, ecc).
Prenotazione analisi microscopia elettronica SEM-EDX
Per la prenotazione dei turni di analisi al microscopio elettronico, è necessario prendere visione del regolamento di seguito riportato, compilare l’apposito modulo di prenotazione riportato in fondo al regolamento ed inviarlo all’indirizzo e-mail prenotazioni@microxraylab.com
Gestione prenotazioni SEM-EDX (accesso riservato)
